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PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀(順豐包郵)

產品簡介

PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀(順豐包郵)
PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀在PARIO的基礎上進一步提升,測量準確度和效率均大幅提升。

2017年METER研發(fā)的革命性的土壤粒徑分析設備PARIO上市。對比傳統(tǒng)的粒徑分析方法PARIO表現出優(yōu)勢。

傳統(tǒng)的比重計法(或吸管法)手工耗時24小時,費時費力易出錯,激光粒度儀法,設備昂貴,耗時長,且存在方法性偏差。

廠商性質:代理商
更新時間:2024-09-04
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PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀(順豐包郵) 產品介紹:

PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀(順豐包郵)

PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀在PARIO的基礎上進一步提升,測量準確度和效率均大幅提升。

2017年METER研發(fā)的革命性的土壤粒徑分析設備PARIO上市。對比傳統(tǒng)的粒徑分析方法PARIO表現出優(yōu)勢。

傳統(tǒng)的比重計法(或吸管法)手工耗時24小時,費時費力易出錯,激光粒度儀法,設備昂貴,耗時長,且存在方法性偏差。

PARIO Plus設置好之后全程自動測量,僅需在測量結束時手動打開閥門。

測量時長縮短至僅需2.5小時,估計誤差低至±0.5%。PARIO Plus從繁雜的實驗中解放科學家的雙手,全身心投入科學問題的研究。


PARIO Plus土壤粒徑自動分析儀(順豐包郵) 測量原理


基于斯托克斯定律(Stokes′ law)計算粒徑分布, 其測量范圍為63~2 μm。

PARIO的測量方法基于成熟的比重計法或吸管法,采用壓力傳感器以10s間隔連續(xù)記錄土壤懸濁液中特定位置的壓力和溫度變化,獲得完整的土壤顆粒粒徑分布曲線。

PARIO Plus使用更精準的“擴展積分懸浮壓力法"(ISP+)(Durner et al., 2017)。

另外,基于斯托克斯定律的PARIO不需要進行土壤特性的傳遞函數校正,而幾乎其它任何自動測量方法都要求進行這種校正例如激光衍射法或圖像分析法。


主要特點


測量速度快  設置好后,儀器運行僅需2.5小時。

測量方法精準 估計誤差低至± 0.5%,低于任何傳統(tǒng)的粒徑分析方法。

自動獨立運行  PARIO允許無人值守,自動化操作,僅需在實驗結束時手動打開閥門。避免人工讀數和計算誤差。

獲得高精度的連續(xù)粒徑分布曲線  與傳統(tǒng)方法測得少數一些離散時間點數據不同,PARIO每10秒進行一次自動測量,并連續(xù)記錄懸浮液的壓力以及溫度變化。

測量過程無擾動  不需要插入液體比重計,也不需要用移液管進行懸浮液的取樣,進而減少了對沉降的擾動。

依據經典原理 根據斯托克斯定律(Stokes′ law)計算粒徑分布,很好的匹配傳統(tǒng)實驗前期準備工作流程。

黏粒含量直接測量獲得。

依據溫度自動綜合計算粒徑分布。

簡單易用一體化  為了您能節(jié)省更多時間,PARIO采用了簡便易用的一體化軟件解決方案,輕松實現數據查詢、可視化操作、數據的計算及導出。


技術參數:


  粒徑范圍   2 ~ 63μm
   質量分數檢查的近似誤差   PARIO Plus: ±1%;PARIO Classic: ±3.0%
   壓力測量   準確度: ±1.0 Pa;分辨率:±0.1 Pa
   典型顆粒質量   25 ~ 50 g/ 1L懸濁液
   典型測量時長   PARIO Plus: 3 h;PARIO Classic: 8.0 h
   測量間隔   10 s
黏粒含量估算根據抽取樣品綜合顆粒質量獲得
砂粒含量估算根據濕篩法測定結果得到
   供電需求   USB 5 V/100 mA
   電腦兼容   微軟 Windows 10
   玻璃容器規(guī)格   高:450.0 mm;內徑:59.0 mm,外徑:67.5 mm;體積:1,000 cm3
   材質:硼硅酸鹽玻璃3.3
   PARIO儀器   高度:293.0 mm;直徑:80.0 mm
   材質:POM塑膠原料和不銹鋼
   懸濁液容積   1,000 mL
   工作溫度   15~35℃;典型:20℃;
   測量中允許的溫度變化   ±1.5 ℃
   需要額外測量的參數

   PARIO Classic: 有機質含量 (如進行了有機質去除);砂粒含量(濕篩法);總懸濁液中分散鹽的質量

   PARIO Plus: 取樣測量干物質總質量;砂粒含量(濕篩法);總懸濁液中分散鹽的質量

   纜線類型   USB 2.0;500 mA用于接收端口
   符合標準   生產制作遵循 ISO 9001:2015
   EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)


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